Przykro nam, ale książka "Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos" jest obecnie niedostępna w naszym magazynie. Wkrótce uzupełnimy stan magazynowy. W międzyczasie zachęcamy do zapoznania się z podobnymi tytułami.
Polecane alternatywy dostępne od ręki